leeb210 leeb210分体式涂层测厚仪 涂镀层测厚仪批发

探头

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

测量原理

磁性

涡流

测量范围（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

测量精度μm

一点校准

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二点校准

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

Z小曲率半径(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

仅为平面

Z小面积直径(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本临界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

无限制

覆盖层基体

有机材料等非磁性覆盖层（如：漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等）

非磁性的有色金属覆盖层（如：铬、锌、铝、铜、锡、银等）

覆盖层厚度不超过100μm

覆盖层厚度超过100μm

覆盖层厚度不超过100μm

覆盖层厚度超过100μm

如铁、钢等磁性金属

被测面积直径大于30mm

F400型测头0～400μm
F1型测头
0～1250μm

F1型测头
0～1250μm
F10型测头
0～10μm

F400型测头0～400μm
F1型测头
0～1250μm

F1型测头
0～1250μm
F10型测头
0～10μm

被测面积直径小于30mm

F400型测头0～400μm

F400型测头0～400μm
F1型测头
0～1250μm

F400型测头0～400μm

F400型测头0～400μm
F1型测头
0～1250μm

如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属

被测面积直径大于10mm

N1型测头0～1250μm
N400测头0～400μm

仅用于铜上镀铬N1型测头0～40μm N400测头0～40μm

被测面积直径大于10mm

N400测头0～400μm

N400测头0～40μm

塑料、印刷线路非金属基体

被测面积直径大于7mm

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CN02型测头10～200μm