博曼BA100膜厚仪,在同类进口测厚仪中,科学技术更为先进突出,采用半导体接收器,分辨率较传统品Pai比例接收器提高数倍,较传统X-RAY精确度提高50%,在测量薄金方面表现更为突出。配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手,采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费
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