3532-50/3532-50日置LCR测试仪15813849596游..._详细资料

产品信息

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产品名称:日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪/HIOKI 3532-50LCR测试仪
产品型号:日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪

简单介绍
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪说明：LCR测试仪 3532-50元器件测量,LCR测试仪 3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,HIOKI3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整,可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。HIOKI3532-50 LCR测试仪操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来,LCR测试仪 3532-50基本参数

日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪/HIOKI 3532-50LCR测试仪的详细介绍
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪说明：
LCR测试仪3532-50元器件测量
LCR测试仪3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整
可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来
LCR测试仪 3532-50基本参数
测量参数 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs（ESR）,G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D（tanδ）和Q
测量方法 测量源：恒流10μ～100mA（42Hz～1MHz），50μ～20mA （1MHz～5MHz），或恒压10mV～5V（42Hz～1MHz）,50mV～1V（1MHz～5MHz）
检测：电压，AC
测量频率 42Hz～5MHz
测量量程 │Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ（视条件而定）
θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF
L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999
Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
基本精度 │Z│: ± 0.08% rdg.，θ: ± 0.05°
测量时间│Z│的典型值 快速：5ms～慢速2：140ms
显示 Z大显示值99999，LCD背光功能
比较器功能 设定：上、下限值，百分比或值输出：3档（高，中，低），开路集电极，绝缘
外部打印 9442 （与9443/9446/9593-01同时使用）
电源供应 100～240V AC 50/60Hz
体积及重量 352宽 &time; 124高 &time; 323厚mm，6.5kg
附件电源线（1），保险丝（1）

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