ST2000-DLXn 薄膜厚度测量仪

活动范围 150 x 120mm（70 x 50mm 移动距离）
测量范围 200?~ 35?（根据膜的类型）
光斑尺寸 20? 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

选择 参考样品（K-MAC or KRISS or NIST）
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量迅速，操作简单

非接触式，非破坏方式

的重复性和再现性

用户易操作界面

每个影像打印和数据保存功能

可测量多达3层

可背面反射