Surfix F铁基膜厚仪 Surfix F统计型铁基涂层测厚仪

Surfix F铁基测厚仪碳化钨超耐磨测头.特快反应速度，同屏显示统计数据，可存储前200测值，基体上涂层,量程1500μ。

Surfix F铁基膜厚仪，Surfix F统计型铁基涂层测厚仪技术参数：
测量范围      0-1500µm,0 - 60mils
误差          ±（1µm+1%读数）
分辨率        0.1µm或小于读数的2%
显示          背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
基体 小面积  5mmX5mm
基体 小曲率  凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体 小厚度  F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准          厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计读数个数（ 多9999个），平均值，标准偏差， 大值和 小值
数据存储      多200个测量数值,可单独调出
数据值        上下限可调,声音报警
数据接口      红外通讯,IrDA标准
环境表面温度  0-50℃/60℃ （可选配150℃）
电源          两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸      137x66x23mm
符合标准      DIN，ISO，ASTM，BS 
 
此款为统计型，若要求价钱便宜，功能简洁请选用基本型。

德国phynix涂层测厚仪Surfix精密系列（分辨率0.1μm，量程1500μm）选型如下：
Surfix B F           铁基基本型
Surfix B N         非铁基基本型
Surfix B FN          两用基本型
Surfix PB F      一体铁基基本型
Surfix PB N    一体非铁基基本型
Surfix PB FN     一体两用基本型
Surfix F             铁基统计型
Surfix N           非铁基统计型
Surfix FN            两用统计型
Surfix P F       一体铁基统计型
Surfix P N     一体非铁基统计型
Surfix P FN      一体两用统计型