微波光电导载流子复合寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号:HAD-100AHAD-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法,适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量,提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况,是半导体质量的重要检测项目。 寿命测量范围:0.25μs-10ms;样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 读数方式:数字直读。
本产品信息由(北京恒奥德科技有限公司)为您提供,内容包括(HAD-100A 微波光电导载流子复合寿命测试仪 少子寿命测试仪)的品牌、型号、技术参数、详细介绍等;如果您想了解更多关于(HAD-100A 微波光电导载流子复合寿命测试仪 少子寿命测试仪)的信息,请直接联系供应商,给供应商留言。若当前页面内容侵犯到您的权益,请及时告知我们,我们将马上修改或删除。
仪器网微信公众号
扫码获取最新信息
咨询客服
仪采招微信公众号
采购信息一键获取海量商机轻松掌控