硅片膜厚测试仪 硅片膜厚测试仪

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硅片膜厚测试仪

Dektak 150 探针轮廓仪（台阶仪）无论是用于科学研究还是工业生产，Dektak 150探针式表面轮廓仪都具有业内的表现性能，Z高的测量重复性以及Z大的扫描范围。Dektak 150集四十多年的技术积累和创新于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于Windows®XP的软件用户界面，使用户迅速掌握Dektak 150。分析功能齐全，界面直观，包括从简便的一键"进针即测量"，到多次扫描结果的自动分析。通过选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。详细资料请咨询