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仪器特点: | 计算机全数字化控制,操作简捷直观。 | 步进马达自动进行针尖--样品逼近,保证实验圆满成功。 | 深度陡度测量,三维显示。 | 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 | X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域. | 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 | 样品观测范围从0.001um-20000um。 | 扫描速度达40000点/秒 | 可选配纳米刻蚀功能模块。 | |
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技术指标: | AFM探头 | 样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。 | XYZ大扫描范围:标准6X6微米 | XY向分辨率:0.4nm(轻敲模式);0.25nm(AFM模式) | Z向分辨率:0.05nm(轻敲式,DNA定标);0.03nm(AFM云母定标) | XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米 | 步进马达自动进行针尖-样品逼近 | 44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配) | AFM电化学针尖块,液电池,液体轻敲式成像功能(选配) | 全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台(选购 |
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电子学控制器: | | XYZ控制 | 18-Bit D/A | 数据采样 | 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 | Z向反馈 | DSP数字反馈 | 反馈采样速率 | | 高压放大器 | 集成高压运算放大器,Z大电压范围+/-150V | 频率范围 | 20K-1000KHz | 幅度范围 | 0-10.0V | 扫描速率 | >40000点/秒 | 扫描角度 | 0-360度 | 扫描偏移 | 任意 | 图像采样点 | 256X256或512X512 | 步进马达控制 | 手动和自动进退 | 计算机接口 | 标准RS232串行/USB |
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