NanoFirst-2100原子力显微镜AFM NanoFirst-2100原子力显微镜AFM_详细资料

产品信息 类型 NanoFirst-2100原子力显微镜AFM 品Pai 上光 型号 NanoFirst-2100原子力显微镜AFM 仪器放大倍数 @ 目镜放大倍数 @ 物镜放大倍数 @ 重量 @（g）适用范围Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域． 装箱数 1 NanoFirst-2100原子力显微镜AFM 特点： 原子力显微镜（Atomic force microscopy）是一种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。一般原子力显微镜利用探针对样品扫描，探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光，后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。 仪器特点: 计算机全数字化控制，操作简捷直观。 步进马达自动进行针尖－－样品逼近，保证实验圆满成功。 深度陡度测量，三维显示。 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域． 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 样品观测范围从0.001um-20000um。 扫描速度达40000点/秒 可选配纳米刻蚀功能模块。 技术指标: SPM探头 样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm XYZ大扫描范围：标准6X6微米 XY向分辨率：0.4nm(轻敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式) Ｚ向分辨率：0.05nm(轻敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式) XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米 步进马达自动进行针尖-样品逼近 44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配) 电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配） 全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购） 电子学控制器: XYZ控制 18-Bit D/A 数据采样 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 Z向反馈 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0KHz 高压放大器集成高压运算放大器，Z大电压范围+/-150V 频率范围 20K-1000KHz 幅度范围 0-10.0V 扫描速率 >40000点/秒 扫描角度 0-360度连续可调 扫描偏移任意 图像采样点 256X256或512X512 步进马达控制手动和自动进退 计算机接口标准RS232串行/USB

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类型	NanoFirst-2100原子力显微镜AFM	品Pai	上光
型号	NanoFirst-2100原子力显微镜AFM	仪器放大倍数	@
目镜放大倍数	@	物镜放大倍数	@
重量	@（g）	适用范围	Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．
装箱数	1