XTOM——三维光学面扫描系统
XTOM——三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理,采用外差式多频相移三维光学测量技术,测量精度、测量速度等性能都比较高,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高,抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业,如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。
XTOM——应用范围
逆向设计:快速获取零部件的表面点云数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。
产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
其他应用:文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。
功能特色
扫描预览,实时跟踪标志点
针对不同幅面的标定板,灵活的相机标定
扫描结果三维显示,灵活的三维显示控制
坐标转换功能
具备光学探针功能
321坐标转换功能
具备点距测量功能
具备多种后处理功能,包括点云精确匹配、重叠面自动融合等
具备多种元素拟合功能:点、线、面、球、圆柱、圆锥等
具备多种偏差分析功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等
规格型号
TOPSCAN-TC
单目型
TOPSCAN-MIC
教育型
TOPSCAN-EDU
教育四目
TOPSCAN-ET
工业型
相机像素
128×96mm
400×300mm
32×24mm
64×48mm
800×600mm
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