手持式四探针测试仪+t 手持式四探针测试仪+t

手持式四探针测试仪+t概述
MHY-07806型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.DP 标准。

仪器成套组成：由MHY-07806主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
电    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cDP， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cDP
方块电阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直    径：DPT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130DPDP。
DPT-C方测试台直接测试方式180DPDP×180DPDP。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100DPDP。.
测量方位: 轴向、径向均可.

概述
MHY-07805型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配DP-T-A或DP-T-B或DP-T-C或DP-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-T-K型测试台，也可选配DP-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）
电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直    径： DP-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可

MHY-07804系列自动表面/界面张力仪除了升降系统是手动操作外，。具有高性能设计，经济型定位的特点，有着极高的性价比。
主要特征： 
1. 铂金板或铂金环测试原理，操作简单方便； 
2. 自动数字化测量，减少人为操作误差； 
3. 全量程一键清零，瞬间完成，零位无漂移； 
4. 全量程自动校正，数据准确可靠、重复性极好； 
5. 铂金板测试时，显示值即为试样的表面/界面张力值，铂金环测试时，具有峰值保持功能，需通过Exce计算或通过数据处理软件自动换算成表面/界面张力值；
6. 仪器结构紧凑，独立工作。也可选配多功能数据处理软件，得到更多的信息；
7. 能测量试样的表面张力因时间不同而产生的变化（特别是有表面活性剂或含有挥发性物质时，限铂金板测试模式下）；
8. 自动量测中、高粘度液体样品并得到准确的平衡结果（限于铂金板测试模式）； 
9. 可测量不相混合液体之间界面张力如：油/水界面； 
10.可完全取代传统机械式表面张力仪，且精度更高、重复性更好、使用更方便；
11.本系列仪器除了手动控制试样平台升降外，主要结构和技术参数与QBZY系列相仿，具有高品质设计、经济型价格，性价比特高。

一 概述
MHY-07803/DP/LDM150外径测控装置(大直径激光测径仪)是采用激光扫描原理进行非接触在线测量的高精度测控装置，主要应用于各种电线、电缆、管材的生产线中，对外径进行测量并调节挤出机螺杆速度或牵引机速度，达到控制外径的目的。也可应用于加工工件的外径和尺寸测量。配以辅助装置可用于各种回转体的锥度、圆度、轴向跳动等的测量。测量方式：激光扫描法
激光器：红色可视半导体激光器
激光器输出功率：〈2mW
工作电压：～220V±15％  50--60Hz
工作温度：－10～40℃
环境湿度：<85％RH
工作方式：连续
耗   电：<30W
外形尺寸：
MHY-07803测量头(不含支架) 500mm(长)X60mm(宽)X240mm(高)
DP/LDM150测量头(不含支架) 910mm(长)X80mm(宽)X292mm(高)
DP/LDM210测量头(不含支架) 910mm(长)X80mm(宽)X292mm(高)
 
支架:350X200X(700-1000)mm
测量位置ZX高:900-1200mm可调
特点：
适用于金属线材、玻璃管、胶管、电线电缆等
可连接PLC、工控机、专用控制器、可连接大屏幕显示器
可配PROFIBUS-DP和MODBUS转换器与PLC、工控机连接
可配远程控制器DDC-2、DDC-3、DDC-5，对挤出机和牵引机进行自动反馈控制，使外径控制在公差范围内，提高产品质量，降低消耗

5:弯脚规/弯角规/人体测量用弯脚规
 型号:MHY-07802

弯脚规       
      由左弯脚、右弯脚、主尺和尺框构成。可用于测量活体和骨骼。

      弯脚规的主尺范围是0~300毫米，可测量活体的头长，宽，面宽，下颌骨间宽；骨骼的颅宽zui大长，宽；面宽，体骨的肩胛骨形态宽等
 
    产品执行标准：GB5704.3-85