LH-373 膜厚计
LH-373は非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。付加機能はLE-373と同様でコンピュータへのデータ転送、測定回数、平均値、zui大zui小値、標準偏差などの簡単な統計処理が可能です。
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