LE-200J 膜厚计（日本KETT代理）_详细资料

产品信息

LE-200J 膜厚计

ポータブルタイプのプリンタ内蔵型膜厚計です。磁性金属上に施されたメッキ（電解ニッケルメッキは除く）?塗装?ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定。さらに、測定結果をその場でプリントアウトできます。
●仕様 LE-200J
測定方式電磁誘導式
測定対象磁性金属上の非磁性被膜
測定範囲 0～1500μmまたは60.00mils
測定精度 15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％
分解能 100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm
適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能測定回数?平均値?標準偏差?zui大値?zui小値?ブロック番号
プローブ一点接触定圧式（LEP-J）
表示方法デジタル（LCD、表示zui小桁0.1μm）
外部出力 RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
電源 AC100V（50/60Hz）または
電池1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4
寸法?質量 120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
付属品標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」

●仕様	LE-200J
測定方式	電磁誘導式
測定対象	磁性金属上の非磁性被膜
測定範囲	0～1500μmまたは60.00mils
測定精度	15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm
適合規格	JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能	測定回数?平均値?標準偏差?zui大値?zui小値?ブロック番号
プローブ	一点接触定圧式（LEP-J）
表示方法	デジタル（LCD、表示zui小桁0.1μm）
外部出力	RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
電源	AC100V（50/60Hz）または電池1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4
寸法?質量	120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
付属品	標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション	L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」

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