型号： | IDP-7300 |
测试对像： | 粉末、固体、液体 |
元素分析范围： | 钠（Na）－铀（U） |
同时***多可测元素： | 36种 |
含量分析范围： | 1ppm～99.99% |
工作稳定性： | 总荧光强度为0.1％ |
测试时间： | 60～200秒 |
探测器分辨率： | 127eV±5 |
多道分析器： | 4096道 |
进口高端DSP数字信号处理芯片 | 64位处理 |
X射线光管： | 功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo |
高压电源： | 电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05% |
***低检出限： | Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm |
探测系统： | 全自动对点探测系统鼠标点击,自动对点 |
升降软件系统： | 电控全自动机盖升降软件独立控制 |
外型尺寸： | 720mm×560mm×450mm(不包括支脚) |
测量仓： | 400mm×280mm×100mm |
重量： | 70Kg |
镀层技术参数： |
可测镀层数： | ***多可达5层 |
镀层种类： | 单金属镀层、合金镀层 |
镀层识别精度： | 分析检出限可达2ppm，***薄可测试0.005μm。 |
厚度测试范围： | 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um |
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标准配置
配置 | 数量 | 单位 |
仪器主机部分主要配置 | 1 | 套 |
1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK | 1 | 套 |
2.低功率X光管 | 1 | 个 |
3. 高压电源 | 1 | 个 |
4. 2048道数字多道分析器 | 1 | 套 |
5. 高精密CCD | 1 | 个 |
6. 滤光片组 | 5 | 组 |
7. 准直器：8种准直器自动切换 | 6 | 个 |
仪器外围配置 | | |
计算机：
联想商务一体机 | 1 | 套 |
2. HP彩色喷墨打印机 | 1 | 台 |
3. 银校正片 | 1 | 片 |
4. 塑料标准样品: EC681K | 1 | 袋 |
5. 样品杯、麦拉膜 | 若干 | |
软件配置（选配） | | |
RoHS/无卤检测 | 1 | 套 |
优点：
1、可测ROHS及金属镀层，ROHS/无卤元素分析可以一次性测试完成，无需分开测试。
2、核心配件均采用进口件
3、仪器测试过程中无意开盖，仪器装有开盖切断开关，可预防辐身安全。
4、每年进行仪器免费检测调校
5、X光管设计使用寿命为2万小时.德谱独有的延长光管使用寿命的技术： (1)、光管自动防老化功能。
(2)、自动跟进不同材质选择不同的光管电流。
(3)、强大的散热系统保证光管正常的工作条件;
