LB膜分析仪-卷对卷式
LB膜分析仪-卷对卷式仪器用于在较长的柔性基底(如保鲜膜式柔性带状基底)上连续沉积单分子薄膜,也可把大尺寸刚性衬底粘接在皮带上进行镀膜,可进行无限多次LB薄膜沉积,可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转,沉积X,Y,Z多种类型的LB薄膜结构。同时具备垂直镀膜与水平镀膜功能。衬底可以是卷式铝箔、卷式PET塑料薄膜等。设备包含镀膜槽,卷对卷样品传动装置,卷对卷转动滑障与水平移动滑障,表面压探头与镀膜头,自动进样装置:注射泵与蠕动泵,控制器,电脑。
LB膜分析仪-卷对卷式仪器是一种多功能的LB莫分析仪,具有柔性镀膜,刚性镀膜,垂直镀膜,水平镀膜功能。
LB膜分析仪-卷对卷式液体界面单分子薄膜镀膜仪器可进行无限多次薄膜沉积,可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转,沉积x、y、z型结构的薄膜。
LB膜分析仪-卷对卷式技术指标:
柔性基底镀膜尺寸范围:长度可达3m,宽度可达16.5cm,柔性基底传送速度范围: 0.4625-117 mm/s,调整步阶0.007725 mm/s。
镀膜井尺寸:200x180x200 mm (w-d-h),侵入液体的Z大基片尺寸不小于170x170x170 mm (w-d-h),兼容常规片状固体基片。
表面压传感器:带2个表面压传感器,分别测量镀膜区域与补样区域的表面压值,表面压传感器灵敏度:0.01 mN/m,测量范围:0-80 mN/m。