X荧光光谱仪 X光管光谱检测仪 专业贵金属检测仪 镀层厚度检测测量仪
型号: JC15-EDX600
X荧光光谱仪 X光管光谱检测仪 专业贵金属检测仪 镀层厚度检测测量仪 仪器介绍
EDX600贵金属检测仪使用GX而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。
性能特点
专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
X荧光光谱仪 X光管光谱检测仪 专业贵金属检测仪 镀层厚度检测测量仪 技术指标
元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:1ppm。
分析含量一般为:1ppm到99.9%。
多次测量重复性可达:0.1%。
长期工作稳定性为:0.1%。
标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。