日本日置 HIOKI IM7585 阻抗分析仪

日本日置 HIOKI IM7585 阻抗分析仪







日本日置 HIOKI IM7585 阻抗分析仪 产品特点

操作简便，设计紧凑

1、测量频率：1MHz~1.3GHz

2、测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）

3、测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）

4、基本精度：±0.65% rdg.

5、紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小

6、丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）

7、使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

日本日置 HIOKI IM7585 阻抗分析仪 技术参数

	测量模式		LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
	测量参数		Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
	精度保证范围		100 mΩ~5 kΩ
	显示范围		Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
		Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
		θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
		D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
		G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
	基本精度		Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
	测量频率		1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz)
	测量信号电平		功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
		电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms
		电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
	输出阻抗		50 Ω (10 MHz时)
	显示		彩色TFT8.4英寸、触屏
	测量时间		快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
	功能		接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
	接口		EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
		RS-232C (选件), GP-IB (选件)
	电源		AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
	体积和重量		主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
		测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
	附件		电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1

注：主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。