YC0741-07 深圳一测DEQ测试系统

     DEQ测试系统是描述数字X射线平板探测器的图像质量和剂量利用效率的综合指标。DEQ测试系统是依据YY/T 0590.1、YY/T 0590.2、YY/T 0590.3标准的要求，对数字X摄像成像装置的量子探测效率进行测定。系统可计算线性回归系数、线性动态范围，MTF和DQE等参数。

  YY/T 0590规定了数字X射线成像装置量子探测效率(DQE)的测定方法。适用于那些产生用于YL诊断的数字格式影像的数字X射线成像装置、适用范围限于用于单次曝光成像的数字X射线摄影装置，例如CR系统、基于硒材料的成像系统，平板探测器，光学耦合CCD成像系统以及数字X射线影像增强器等。不适用于：乳腺摄影和牙科摄影用数字X射线成像装置; 计算机体层摄影设备;以及对人体进行扫描成像的X线系统; 动态成像设备(在该系统中一系列影像被采集到，例如透视和心脏成像)等。

      DEQ测试系统产品特性：


l  完全依据标准设计；