3504-40 HIOKI日置C测试仪3504-40_详细资料

产品信息 是否提供加工定制否类型 C测试仪 品Pai HIOKI 型号 3504-40 测量范围 0.9400pF～20.0000mF（MΩ） 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 高速测量2ms能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试查出全机测量中的接触错误，提高成品率 输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 基本参数 测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） 测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 基本确度（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt.,D:±0.0016 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 测量频率 120Hz, 1kHz 测量信号电平恒定电压模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) 输出电阻 5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外） 显示发光二级管（6行表示，满量程计算器根据量程而定） 测量时间典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 机能 4端子控制检测功能（3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-CYZ功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外） 电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, Z大110VA 体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg 附件电源线×1，预备电源保险丝×1 (不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)

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是否提供加工定制	否	类型	C测试仪
品Pai	HIOKI	型号	3504-40
测量范围	0.9400pF～20.0000mF（MΩ）