ST2271B型便携式双电测数字四探针测试仪 ST2271B型便携式双电测数字式四探针测试仪

是否提供加工定制	是	类型	便携式参数测量仪
品Pai	JG晶格	型号	ST2271B型便携式双电测数字四探针测试仪
测量范围	电阻率：1.0×10^-3 ～ 20.0×10^3 Ω-cm 分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□电 阻 率：1.0×10-3 ～ 20	测量精度	±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内）
功率	0.005（KW）	频率	DC5V（HZ）
重量	0.5（kg）	尺寸	外形尺寸：W×H×L=11cm×4cm×16cm（mm）
电源	DC5V

ST2271B型便携式双电测数字方阻测试仪简介一、结构特征本款为便携式，见附图二、概述ST2271B型便携式双电测数字方阻测试仪是运用方形四探针Keywell测量原理的多用途综合测量装置，它与直线四探针相比，消除了探针游离对测试结果的不利影响，大大提高精确度，并提高微区测试能力，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。三、基本技术参数1.测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3～ 200.0×103Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103Ω电 阻 率： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103Ω-cm方块电阻： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω/□ 分辨率1.0×10-3～ 0.1×103Ω/□2.可测半导体材料尺寸直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.3.量程划分及误差等级

量程	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
	kΩ-cm/□			Ω-cm/□			mΩ-cm/□
误差	±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内），超量程或欠量程可测量，但误差将随超欠程度而变大

4)工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W5)外形尺寸：W×H×L=11cm×4cm×16cm净 重：≤1kg四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司 网站http://www.jgdz.com.cn或阿里巴巴诚信通商铺http://dhl7002.cn.alibaba.com 慧聪网买卖通商铺http://jgdz2010.b2b.hc360.com 查看《ST2271B型双电测数字式四探针测试仪技术使用说明书》