产品指标
测试元素范围：S-U中的元素；
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：145eV
高压范围：0-50kV，50W
X光管参数：0-50kV，50W侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：4种复合滤光片自动切换；
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
开盖方式：随意自动停
测试样品种类：液体、固体和粉末
测量范围：1ppm—99.99%
测量用时：120-400秒
测试环境：非真空测试
RoHS检出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm，
准直器：1mm 2mm 4mm
优点:
1、分析速度高 测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
3、非破坏分析在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
4、X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质属同一族的元素能进行分析。
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