半导体测试探针-GGB直流硬探针ST系列_详细资料

产品信息 ST系列硬探针与T-4系列软探针，做于直流测试探针、半导体测试探针、芯片测试探针。ST系列探针针尖有1/2/5/10/20/50/100可选，可根据具体要求进行挑选，价格一样。T-4系列探针针尖有0.2/2/4/6/10um可选，可根据具体要求进行选择，具体价格请咨询销售人员。 产品介绍 一、T-4系列软针 T-4-10针尖在电镜下扫描成像 T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电 极，或者 FIB(聚焦离子束)制作的 mini电极。 T-4系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接 于镀锡的铜材质针杆上。 其中T-4-10和T-4-22两款是客户反馈比较有优势的 型号，因为其针须直径较细，具有良好的弯曲弹性， 能够极大的减少对芯片电极的损害，在部分震动环 境下面也能够保证和电极的良好接触。 T-4软针不建议在敏感节点使用，因为会产生电容负 载的问题，在此环境下，建议使用高阻抗 Picoprobes 型号 针须直径 针尖直径 针须长度 T-4-5 5微米 <0.2微米 0.13" (3.3mm) T-4-10 10微米 <0.2微米 0.13" (3.3mm) T-4-22 22微米 <2.0微米 0.20" (5.1mm) T-4-35 35微米 <4.0微米 0.20" (5.1mm) T-4-60 60微米 <6.0微米 0.20" (5.1mm) T-4-125 125微米 <10.0微米 0.20" (5.1mm) ST系列硬探针 ST系列探针尺寸图 ST系列硬针是 0.020 inch (0.51mm)直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针 尖直径，长度为 1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线 路点测。 ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果 选择镀镍则型号后面增加“NP”。 型号 针杆直径 针尖直径 ST-20-0.5 0.020" (0.51mm) <1微米 ST-20-1 0.020" (0.51mm) <2.0微米 ST-20-2 0.020" (0.51mm) <5.0微米 ST-20-5 0.020" (0.51mm) <10.0微米 ST-20-10 0.020" (0.51mm) <20.0微米 ST-20-20 0.020" (0.51mm) <40.0微米 ST-20-50 0.020" (0.51mm) <100.0微米 ST-20-100 0.020" (0.51mm) <200.0微米

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型号	针须直径	针尖直径	针须长度
T-4-5	5微米	<0.2微米	0.13" (3.3mm)
T-4-10	10微米	<0.2微米	0.13" (3.3mm)
T-4-22	22微米	<2.0微米	0.20" (5.1mm)
T-4-35	35微米	<4.0微米	0.20" (5.1mm)
T-4-60	60微米	<6.0微米	0.20" (5.1mm)
T-4-125	125微米	<10.0微米	0.20" (5.1mm)