JIMA工业CT的微焦点分辨率测试卡JIMA RT CT-01越来越先进的半导体加工技术促使了对新的微焦点计算机断层扫描系统（CT）分辨率测试卡的需求，JIMA公司推出分辨率测试卡RT CT-01。
越来越先进的半导体加工技术促使了对新的微焦点计算机断层扫描系统（CT）分辨率测试卡的需求，JIMA公司推出分辨率测试卡RT CT-01。
该型号分辨率测试卡可以在对微焦点计算机断层扫描系统（CT）进行校准、调整、安装以及维护后，用来测试系统的性能，提供5组大家熟悉的T型黑白相间的测试区域。
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