能量色散型X射线荧光分析装置EDX-GP

EDX-GP是Z适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。次使用，也能轻松操作，操作简便且以更高的精度进行微量分析，达到灵敏度与分辨率的结合。标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，使可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统 。

本装置配置了RoHS/ELV检测中市场占有率的EDX－720型的半导体检测器、专用滤光片及高计数率电路。

为什么需要高灵敏度？ 能够测定更微量的元素。 测定时间更短，因此相同时间内测定数量更多。   ■卤素系列阻燃剂中微量Cd 〔keV〕 为什么需要高分辨率？ 可以减轻目标元素附近的其他共存元素的重叠影响。   ■ 卤素系列阻燃剂中微量Pb 〔keV〕 为什么需要高精度？ 在IEC提出的合格判定中，分析装置的重现性对判定结果有很大的影响，重现性越好（即测定精度越高），合格判定的准确度就越高。

利用专用滤光片提高灵敏度／还可以进行高灵敏度的无卤素分析 标准配备了5种滤光片，可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线，提高检测灵敏度。 本装置在RoHS/ELV/无卤素分析中会自动选择3种Z合适的滤光片，进行高灵敏度测定。

受X射线管Rh的特征X射线影响的Cl也可以测定 　微量成分：Cl（除去特征X射线） 利用滤光片提高检测灵敏度 微量成分：Pb（背景降低）

滤光片条件灵活，满足客户要求 如果您希望在短时间内对多个样品进行测定，推荐使用单个滤光片进行高速分析。

<由单个滤光片进行高速分析> 测定时间：100秒

如果您希望对微量元素进行高灵敏测定，可以选择各种专用滤光片进行高灵敏度分析。 与单个滤光片高速分析相比，灵敏度约提高2～3倍。

<由专用滤光片进行高灵敏度分析> 测定时间：300秒（100秒×3通道）