产地类别 国产
参数:
ZX波长精度：优于±1nm；
峰值波长精度：优于±1nm；
光谱带宽测量精度：优于±0.5nm；
相对光谱响应度测量精度：优于±2 %；
非均匀性标定误差：优于±1%；
像素不均匀性测量精度：1%；
应用:
线/面阵/TDI
CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱
辐射响应性能测试和标定。
案例:
中科院新疆理化研究所
航天八院812所
西北工业大学等
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