LEICA EM TIC 3X leica徕卡三离子束切割仪

适用于任何材料样品，获得高质量平整表面。

适用于SEM微区分析(EDS, WDS, EBSD, CL) 及AFM分析

新离子束原理（EM TIC3X ）

三个离子束从不同的角度同时轰击样品
样品固定不动
切割深度 >1mm
切割宽度 > 4mm!

传统离子束原理 (W. Hauffe, 1976)
一个离子束
样品部分被遮挡
样品需要摆动
样品未被遮挡的区域被离子束轰击

徕卡TIC3X三离子束切割抛光仪的技术特点

1、便捷操作：独特样品转载对中设计，仪器观察窗口标配徕卡原装高级体视显微镜，方便样品装载和实时观测加工过程！在离子束切割过程中，可不破真空调整样品。

2、导热性能优异：截面切割时，三把宽束离子枪加工，离子束束斑宽，对样品冲击更弱，可控制样品加工区域在70摄氏度以下。

3、超大样品装载尺寸和加工面积：徕卡TIC3X截面切割的尺寸可达4mm x1 mm，一次切割宽度是竞争对手产品的3倍左右；平面抛光区域直径25mm，总抛光面积是竞争对手产品的6倍左右。

4、离子束损伤小：采用三把宽束离子枪切割，样品加工表面离子损伤小，极少出现离子划痕现象。

5、做铁磁性样品不会污染离子枪：TIC3X的离子枪采用鞍型场枪结构，内部不含磁铁，不会吸引铁磁性样品抛光碎屑而造成频繁短路情况。