镀金X射线无损测厚仪

镀金X射线无损测厚仪

韩国先锋 XRF-2000

X射线镀层测厚仪

电镀膜厚仪

产品介绍

X 荧光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000 系列
 

1. H型: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。  
2. L型:  密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。  
3. PCB型:  开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下

应用 : 

检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度

测量范围根据不同镀层0.04-35um

精度控制：
 

表层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内

测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等,其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。   
 

特色 :
  

非破坏，非接触式检测分析，快速精确。 
可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。 
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 
  全系列独特设计样品与光径自动对焦系统。 
  标准配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 
 准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。  
  移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。  
  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。 
  雷射对焦，配合CCD摄取影像使用point and shot功能。 

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 

光学20倍影像放大功能，更能精确对位。  

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
 

韩国MICRO PIONEER

XRF-2000镀层测厚仪

优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的Z佳优势。  

  镀金X射线无损测厚仪
 

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