产品名称:SP-601型方型四探针探头
SP-601型方型四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，专用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 ◆ 特性及规格：
1 特制之手握式探笔 2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 4 探头使用寿命长 5 探针间距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ ◆ 规格：
型号
（Model） 曲率半径
（Radius） 压力
（loads） 探针间距
（spacing） 探针排列
（Arrangement） SP-601 0.5mm 100g 1.59mm 方形
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