DL48-SP-601 方型四探针探头

方型四探针探头  的详细介绍

DL48-SP-601型方型四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，专用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格：

1 特制之手握式探笔
2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4 探头使用寿命长
5 探针间距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

◆DL48-SP-601型方形四探针探头规格： 
型号 
（Model） 曲率半径
（Radius） 压力
（loads） 探针间距
（spacing） 探针排列
（Arrangement）
DL48-SP-6010.5mm100g1.59mm方形