X光测厚仪,南京镀层测厚仪,无锡镀层测厚仪,常州镀层测厚仪,扬州测厚仪

 Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。

其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破坏性测厚仪器的机型。

应用： 

    多镀层金属厚度测量 

    合金鉴定及化学分析 

    电镀液分析 

    金成色分析 

 

特点： 

    标准50瓦微焦X射线管 

    计数率增加，精度提高 

    可升级75瓦光管 

    多准直器 

    计数率和光斑尺寸之间的Z佳平衡 

    镭射聚焦 

    改善系统再现性（消除人为干扰） 

    标准FP软件包 

    综合应用模式 

    无损金属镀层测厚仪简单校准 

    开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标 

    提供中文等7种语言界面 

    主营： 测厚仪系列 

 

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