瑞典XCounter 双能探测器
产品描述:PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。
PDT25-DE可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE先进之处,在双能采集过程中,探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为YL和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术,可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测(NDT)
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数
物理参数
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尺寸 (L×W×H)
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94×54×20mm
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重量
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150g(235g 带钨防护)
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温度控制
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内部的珀尔帖效应温度控制
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环境温度
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+15 - +45℃
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储藏温度
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-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度
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消耗功率
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10W
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射线窗
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碳纤维, 厚250μm
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射线屏蔽
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根据应用
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传感器
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传感器类型
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双能光子计数 CdTe-CMOS
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传感器厚度
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0.75mm-2.0mm CdTe
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有效面积
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25.6×25.6 mm2
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像素
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100μm
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像素填充率
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性能
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帧率
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35fps
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动态范围
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12 bits
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成像时间
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100μs-5s (通过软件,可以设置更长时间)
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DQE(0)
Detective Quantum Efficiency
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85%@RQA5 spectra
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MTF
Modulation Transfer Function
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>80% @ 2lp/mm
>45% @ 5lp/mm
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管KV范围
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15-140 kVp
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内部测试图样
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Pseudo-random debug pattern
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外部触发输出
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3-3 V TTL
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输入
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3-15V
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滞后
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0%
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拖影
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<0.1% X射线开启后1分钟(12μGy)
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分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off)