PDT25-DE 瑞典XCounter 双能探测器_详细资料

产品信息

瑞典XCounter 双能探测器产品描述：PDT25-DE

紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。

PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。

引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE先进之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为YL和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。

集成

通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。

应用

*小范围辐照

*小动物成像

*实验室样品和标本成像

*反向散射成像

*工业检测（NDT）

特点和优势

*CdTe-CMOS传感器，高品质成像

*双能采集，具有材料区分能力

*反符合技术，的能量分辨率

*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式

*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8

*绑定强大的可编程的开发软件

技术参数

物理参数

尺寸（L×W×H）
94×54×20mm
重量
150g（235g 带钨防护）
温度控制
内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度
+15 - +45℃
储藏温度
-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度
Z大消耗功率
10W
射线窗
碳纤维，厚250μm
射线屏蔽
根据应用

传感器

传感器类型
双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积
25.6×25.6 mm2
像素
100μm
像素填充率

性能

帧率
Z高35fps
动态范围
12 bits
成像时间
100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间）
DQE（0）

Detective Quantum Efficiency
85%@RQA5 spectra
MTF

Modulation Transfer Function
＞80% @ 2lp/mm

＞45% @ 5lp/mm
管KV范围
15-140 kVp
内部测试图样
Pseudo-random debug pattern
外部触发输出
3-3 V TTL
输入
3-15V
滞后
0%
拖影
＜0.1% X射线开启后1分钟（12μGy）

分辨率和DQE曲线（反符合开CC on和闭CC off）

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产品信息

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	物理参数
	尺寸（L×W×H）			94×54×20mm
	重量			150g（235g 带钨防护）
	温度控制			内部的珀尔帖效应温度控制
	环境温度			+15 - +45℃
	储藏温度			-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度
	Z大消耗功率			10W
	射线窗			碳纤维，厚250μm
	射线屏蔽			根据应用

	传感器
	传感器类型			双能光子计数 CdTe-CMOS
	传感器厚度			0.75mm-2.0mm CdTe
	有效面积			25.6×25.6 mm2
	像素			100μm
	像素填充率

	性能
	帧率			Z高35fps
	动态范围			12 bits
	成像时间			100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间）
	DQE（0） Detective Quantum Efficiency			85%@RQA5 spectra
	MTF Modulation Transfer Function			＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm
	管KV范围			15-140 kVp
	内部测试图样			Pseudo-random debug pattern
	外部触发输出			3-3 V TTL
	输入			3-15V
	滞后			0%
	拖影			＜0.1% X射线开启后1分钟（12μGy）