离子减薄仪（Ion Milling）

来自欧洲SEM、TEM、XTEM及FIB样品制备系统；可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。

常规的离子减薄仪离子源能量较大，易破坏样品的微观结构，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构；
因此，采用低能离子源，在有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。