英国牛津仪器CMI900介绍 五金行业:膜厚仪、膜厚测试仪、电镀测厚仪、电镀层测厚仪、电镀膜厚仪、无损膜厚仪、X射线膜厚仪;
PCB行业:镀层测厚仪、金镍测厚仪、金银测厚仪、镀层测厚仪、X-Ray测厚仪、X射线荧光镀层测厚仪、X-Ray膜厚仪、X射线膜厚仪;
LED支架行业:支架膜厚仪、支架镀层测厚仪、支架功能区测厚仪、银层测厚仪;
其他行业:连接器膜厚仪、金厚测量仪、无损镀层测厚仪,大型膜厚仪,台式镀层测厚仪,金属镀层测厚仪。
CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下
进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件、半导体、PCB、FCP、LED、端子、五金产品、汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。
主要特点:样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量);
可检测元素范围:Ti22 – U92;
可同时测定5层/15种元素;
精度高、稳定性好;
贵金属检测,如Au karat评价;
材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;
材料鉴别和分类检测;
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量;
多达4个样品的光谱同时显示和比较;
强大的数据统计、处理功能;
测量范围宽;
NIST认证的标准片;
服务及支持。
测量斑点尺寸:在12.7mm聚焦距离时,Z小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器);
在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器)。
测量精度: 厚度范围 | 镀层误差 | 第二镀层误差 | 第三镀层误差 |
小于20µin (0.5µm) | +1µin or better | +2µin or better | +3µin or better |
大于20µin (0.5µm) | +5% or better | +10% or better | +15% or better |
X射线激发系统: 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选