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仪器网 产品库 中国计量科学研究院2024年5至10月政府采购意向
中国计量科学研究院2024年5至10月政府采购意向
项目名称: 硅片表面缺陷测量系统采购项目 品目 A02100302-光学计量仪器
公告时间: 20240304 预算金额: 190.000000万元(人民币)
采购单位 中国计量科学研究院 采购时间 202405
采购需求：
拟采购硅片表面缺陷测量系统，测量范围：（90´90）um；划痕测量重复性：≤10nm。

本文来源: https://cp.yiqi.com/ycz/ydetail_20245546ad.html
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