X射线荧光分析仪牛津电镀锌层测厚仪 X-RAY镀层测厚仪 金属镀层测厚仪是一款低成本GX率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
行业
牛津电镀锌层测厚仪 X-RAY镀层测厚仪 金属镀层测厚仪在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量,镀层测厚仪为这些行业提供了:
- 以更有效的过程控制来提高生产力
- 有助电镀过程中的生产成本Z小化、产量Z大化
- 快速无损地分析珠宝及其他合金
- 快速分析多达4层镀层
- 经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
- 操作简单,只需要简单的培训
的性能
快速、精确的分析:
大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供Z佳灵敏度
简单的元素区分:
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化,可分析的元素范围大:
采用了技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
的长期稳定性:
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义