产品概述:KOSAKA 台阶仪ET4000系列
● 高精度.安定性.机能性ZY适合于FPD基板·晶圆硬盘等的微细形状、段差、粗度测定的机型。
● 是多机能的全自动微细形状测定机,针对用途及样品尺寸有多种机型可供选择。
● ET4000A/ ET4000AK一可实现2D/3D表面形状测量。
● ET4000M一高性能的泛用微细形状测定机。
● ET4000L一对应大型工件的全自动微细形状测定机。
● ET4300一适合12"样品测量。
●各机型详细参数请与区域销售联系。
台阶仪/膜厚仪ET4000系列产品参数KOSAKA 台阶仪ET4000系列
ZD试片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
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重现性 | 1σ 0.5nm以内 |
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测定范围 | Z:100um X:100~305mm (Y移动量:150~400mm) |
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分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
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测定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
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台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面