GM-300E型 透反射式硅片检测显微镜

一、用途：

     透反射式硅片检测显微镜GM-300E主要用于太阳能电池硅片的观察.它能生产高清晰的图像,立体感较强，成像较清晰和宽阔，又具有长工作距离，并具有较大的视场范围和相应的放大倍数, 配有高像素的数码摄像头,可以很清楚地看到硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析服务.是太阳能电池硅片的普遍专用显微镜。

硅片检测显微镜可以观察到肉眼难观测的位错、划痕、崩边等;还可以对硅片的杂质、残留物成分分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等，造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象，使磨片不合格. 是太阳能电池硅片生产企业进行质量控制Z普通的仪器.

二、技术参数  

1.    目  镜

2. 物  镜

3.光学放大倍数：50X 100X  400X 600X   系统参考放大倍数：50X-4000X
4.载物台：尺寸 185mm*140mm    移动范围 75mm*50mm
5.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动   微动格值 0.002mm
6.滤色片组：转盘式，黄色、蓝色、绿色、磨砂玻璃
7.偏光装置：可插入式起偏振片和三目头内置检偏振片
8.照明系统：6V/20W卤素灯，亮度可调；220V（50Hz）

9.防霉:特有的防霉系统

10.成像系统:500万高像素的数字摄像头

三、系统组成

电脑型硅片检测显微镜(GM-300E): 1、显微微 2、适配镜 3、500万高像素摄像头

                               4、计算机(选配)

四、总放大参考倍数

    电脑型硅片检测显微镜(GM-300E)：50--40000倍（17寸显示器为例）

五、选购件  

1二维测量软件.目镜： 20X 10X(带刻度)  3.物镜：20X  80X