美国膜厚测试仪
1.用先进的X射线技术,可GX率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计,快速分析(几秒)1-4层镀层厚度。
6.多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型,开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等。
8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法
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